摘要
Fabry-Pérot標準具廣泛應用于激光諧振器和光譜學中，用于敏感波長的濾波。通常，它們由兩個高反射(HR)涂層表面和之間的空氣(或玻璃)組成。在這個例子中，建立了一個以硅為間層的標準具光學測量系統，以測量鈉D線。利用非序列場追跡技術，充分考慮了多元反射對條紋對比度的影響，研究了涂層的反射率對條紋對比度的影響。
建模任務
具有高反射(HR)涂層的標準具
圖層矩陣解算器
分層介質組件采用圖層矩陣電磁場求解器。該求解器工作在空間頻域(k-域)。它包含
1. 一個特征模求解器為每個均勻層和
2. 一個s矩陣，用于在所有接口處匹配邊界條件。
本征模求解器計算各層均勻介質k域的場解。S-矩陣算法通過遞歸方式匹配邊界條件計算整個圖層系統的響應。
這種方法以其無條件的數值穩定性而聞名，因為與傳統的傳遞矩陣不同，它避免了計算步驟中的指數增長函數。
更多的信息：
總結-組件
兩條光譜線的可視化
精細vs.涂層反射率
精細度vs.涂層反射率
內部諧振增強
整個傳輸值將在諧振波長的倍數處達到峰值。這些曲線的確切形狀也取決于標準具表面的反射率。
請注意，在我們的示例中，使用的是真實的涂料。通過設計，具有更大反射率的涂層利用更多的圖層堆疊，因此更厚，這有效地改變了標準具曲面的距離。這導致了諧振峰的輕微偏移。
注意: 傳輸值取自艾里圖案的中心
VirtualLab Fusion技術
文件信息
進一步閱讀
- Modeling of Etalon with Planar or Curved Surfaces
- Coherence Measurement Using Michelson Interferometer and Fourier Transform Spectroscopy
- Stratified Media Component
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