1. 摘要
VirtualLab可以通過對光學系統僅一次建模而使用不同的追跡技術對其進行分析。這包括光線追蹤以與場追蹤。 通過VirtualLab的非序列擴展，可以輕松地在序列和非序列之間對光學系統進行分析。本例演示了如何對您的系統執行非順序分析。 作為范例，我們將使用一個平板，其第二個表面微傾。
2. 建模任務
在這個用例中，我們將說明用戶如何輕松切換序列和非序列系統分析。
為了演示目的，我們使用平面波來照射平板。
我們對平板反射的光線感興趣。
組件由兩個平面接口組成，其中第二個面傾斜0.1°
3. 示例系統
通過系統配置文件指定系統參數。
4. 非序列追跡的選擇
在光學系統屬性窗口中，你可以選擇執行序列追跡或者非序列追跡。
該屬性選項會作用在以下引擎：
- 光線追跡
- 光線追跡系統分析器
- 第二代場追跡
5. 序列光線追跡結果
通過執行光線追跡系統分析器，可以顯示一個3D光線分布。
在序列光線追蹤的情況下，只評估第一個表面的反射光。
6. 序列場追跡結果
使用相機探測器作為系統探測器。
其可以計算探測器平面的能量強度分布
使用序列場追跡，一個平面波照射探測器，并以設定的色域顯示。
7. 選擇非序列追跡
可以通過在屬性窗口中更改屬性Non-Sequential Tracing來激活非序列分析。
如果選擇此選項，VirtualLab將提供多個選項來控制非序列追跡技術。
這些選項在另一個案例中介紹。
8. 非序列光線追跡結果
左側的屏幕截圖顯示了光線追跡3D分析器的結果。
圖中可見，光線追跡引擎對第一平面和第二平面之間的內部反射進行了計算操作。
9. 非序列場追跡結果
相機探測器現在由兩個平面波照明。
強度分布圖顯示了這些模式的干涉圖案。
這種干涉圖案是由第二個表面相對于第一個表面的小傾斜造成的。
10. 文件和技術信息
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